氣內(nèi)測(cè)校特點(diǎn)
也可配合電子柱量?jī)x使用，它兼容浮標(biāo)式氣動(dòng)量?jī)x所有倍率！精度高，效率高，讀數(shù)更直觀
測(cè)量頭的標(biāo)準(zhǔn)件是上、下限校對(duì)規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個(gè)，用來校正量?jī)x的倍率。測(cè)量時(shí)，將測(cè)量頭插入被測(cè)孔內(nèi)，量?jī)x指示的數(shù)值為被測(cè)孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測(cè)量頭沿被測(cè)孔作軸向移動(dòng)，量?jī)x指示的差值為孔在移動(dòng)范圍內(nèi)的錐度。如果測(cè)量頭在被測(cè)孔內(nèi)作相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)，則可測(cè)得被測(cè)孔的圓度。
φ3~φ150mm
每套氣內(nèi)測(cè)校含上下限校對(duì)規(guī)及氣內(nèi)測(cè)頭各1支。
與AQF浮標(biāo)式氣動(dòng)量?jī)x配套，用作一般形式的盲孔及臺(tái)階孔測(cè)量。
被測(cè)孔長(zhǎng)度：>8mm
氣內(nèi)測(cè)校使用方法
當(dāng)前位置：氣動(dòng)量?jī)x >
產(chǎn)品中心 >
氣內(nèi)測(cè)校 氣外測(cè)校 >
